Us
linki
EN
English version
Pracownia SEM dysponuje nastpujc aparatur specjalistyczn: wysokoprniowym skaningowym mikroskopem elektronowym, punktem krytycznym do suszenia prbek biologicznych, napylark prniow do pokrywania prbek metalem szlachetnym, mikroskopem stereoskopowym do wstpnych obserwacji badanego materiau oraz penym zestawem odczynnikw chemicznych stosowanym w preparatyce SEM.

Mikroskop elektronowy skaningowy


Elektronowy mikroskop skaningowy (SEM - Scanning Electron Microscope) jest rodzajem mikroskopu elektronowego, w ktrym obraz uzyskiwany jest przez omiatanie prbki wizk fali elektronowej. Wizka elektronw pierwotnych emitowana przez sond elektronow jest skupiana przez soczewki elektromagnetyczne a specjalne cewki odchylajce nadaj jej ruch skanujcy.
W momencie, gdy elektrony pierwotne padaj na powierzchni cz z nich jest wstecznie rozpraszana (elektrony BSE), cz wnika do wntrza prbki powodujc emisj wtrnych elektronw (SE), promieni rentgenowskich X oraz wiata widzialnego.
W pobliu owietlanej elektronami prbki ustawione s specjalne detektory, ktre wykrywaj elektrony rozproszone, wtrne lub ktry z rodzajw promieniowania przetwarzajc rejestrowane sygnay na sygnay cyfrowe. Sygnay cyfrowe s nastpnie przetwarzane na obraz wywietlany na monitorze. Mikroskop skaningowy jest podstawowym narzdziem pomiarowo-badawczym wszdzie tam, gdzie zachodzi konieczno analizowania stanu powierzchni i oceniania jej morfologii.

Skaningowy mikroskop elektronowy Tesla BS 340

  • Detektor elektronw wtrnych (SE)

  • Tryb wysokiej prni (HV)

  • Napicia robocze: 5-30 kV

  • Mikrofotografia: Fomapan 400/120 film

  • Cyfrowy zapis obrazu (Mikrosystem SEM Framegrabber)

Mikroskop stereoskopowy Stemi DV4/DR Zeiss

Wstpne obserwacje prbek przeznaczonych do bada w mikroskopie skaningowym

Punkt krytyczny CPD 2 (Pelco)

  • Suszenie obiektw biologicznych
  • Prbki organiczne, ze wzgldu na du zawarto wody, nie nadaj si do umieszczania w komorze mikroskopu ze wzgldu na istniejc tam prni. Metoda CPD opiera si na wykorzystaniu zjawiska wspistnienia fazy ciekej i gazowej CO2 w pewnych warunkach cinienia i temperatury. W tzw. punkcie krytycznym dwutlenek wgla przechodzi ze stanu ciekego w gazowy, a procesowi temu nie towarzysz siy znieksztacajce. Uzyskuje si w ten sposb mniej artefaktw na powierzchni i bada si struktur w jej pierwotnej postaci.

Napylarka prniowa SC-6 (Pelco)

  • Pokrywanie prbek metalem szlachetnym
  • Prbki nieprzewodzce pokrywa si zotem technicznym w napylarce prniowej. Warstwa napylajca redukuje niekorzystny efekt zwizany ze skondensowan warstw elektronw w warunkach wysokiej prni oraz poprawia jako uzyskanych obrazw. Czas napylania ustala si dowiadczalnie.
linia
kontakt